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Zhuzhou Sanxin Cemented Carbide Manufacturing Co., Ltd

Nickelplattierte Wolframkarbidnadel zur Halbleiterprüfung

Produktdetails:
Herkunftsort: Zhuzhou, China
Markenname: Sanxin
Zertifizierung: ISO9001
Modellnummer: SX1407
Zahlung und Versand AGB:
Min Bestellmenge: 2
Lieferzeit: 5 bis 25 Tage
Zahlungsbedingungen: L/C, T/T, Western Union
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Detailinformationen

Elementname: Wolframnadel Charaktere: Verschleißfestigkeit, Korrosionsbeständigkeit
Härte: HRA 90-92 Vorteil: Hohe Verschleißbeständigkeit, lange Lebensdauer
Form: Pin Karbidgrad: Yg6, Yg8, Yg10, usw.
Oberflächenbehandlung: Gut gemahlen und poliert Dienstleistungen: ODM,OEM,OEM und ODM
Qualitätsgrad: K30, YG10X, K40, P10... Hauptmerkmal: Verschleißfest
Toleranz: h6
Hervorheben:

mit einer Breite von mehr als 30 mm

,

semiconductor testing tungsten pin

,

Halbleiterprüfungen mit Wolfram-Pin

Produkt-Beschreibung

Mikron-Leitung Pioneer Nickelplattiert Custom Wolframkarbid Nadel


Die Präzisionssonde mit galvanisierter Nickelschicht, mit ultra-niedrigem Berührungswiderstand von 0,02Ω und HV500 Härtebeschichtung,überwindet die Verschleiß- und Oxidationsschmerzpunkte von gewöhnlichen vergoldeten Nadeln, und erreicht eine Nulldämpfungsübertragung von Signalen auf Mikroamperebene in den Bereichen Halbleiterprüfung und medizinische Elektroden.


Spezifische Matrix:


Parameter Standardwert Höchste Genauigkeit Prüfstand
Durchmesserbereich Φ0,1-2,0 mm Φ0,05 mm (Mikronadel) Laserdurchmessermessgerät
Beschichtungsdicke 5 ± 0,5 μm ± 0,2 μm XRF-Spektrometer
Gerade ≤ 0,003 mm/30 mm 0.001mm/30mm VDI 2617
Beschichtungshärte HV500±50 Nanoindenter vollständig getestet ISO 14577
Kontaktwiderstand 0.02Ω±0.005Ω Vier-Draht-Messung IEC 60512

Hinweis: Die oben genannten Daten dienen nur der Referenz, bitte kontaktieren Sie uns für die Anpassung.


Leistungsvorteile:


- Berührungswiderstand: 0,02-0,05Ω (90% niedriger als Pins aus Edelstahl)
- Verwenden Sie das Leben: >1,000,000 Steckplug-In-Zyklen
- Korrosionsbeständigkeit: 96h Salzsprühprüfung bestanden


Anwendung:


Halbleiterprüfung
- Wafer-Level-Sonde-Karte (0,1 mm Φ Mikronadel-Array)
- BGA-Paketprüfung (50 μm Pitch Continuity)
- Prüfung von GaN-Halbleitergeräten der dritten Generation (Hochtemperaturbeständigkeit bis 400°C)


Medizinische Elektronik
- Implantierbare neuronale Elektroden (Bio-Kompatibilität zertifiziert)
- Blutzuckersonden (Widerstandsfähig gegen Antikörperkorrosion)
- Endoskopkontakte (> 500 Sterilisationszyklen)


Präzisionsindustrie
- PCB-Flugsondeprüfung (0,3 mm Kontinuität)
- Neue Energiebatteriesonden (Widerstandsfähig gegen Elektrolytkorrosion)
- Mikroanschlüsse (Einsetzungs- und Entnahmekraft ≤ 0,5 N)


Nickelplattierte Wolframkarbidnadel zur Halbleiterprüfung 0


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